３次元データの活用による誤差修正

複雑形状や自由曲面を持つ部品は、従来の接触式測定法では、反りや歪みといった設計図面からの誤差の実態把握が困難です。そこで日本マイクロMIMでは非接触光学式３次元スキャナーを用い、金型、試作品、射出成形体、焼結体を製品に触れることなく全ての表面状態と形状を３次元データとして取得します。この取得した３次元データと元の製品３次元CADデータを比較検証することで、誤差を検出し解析を行っています。

このプロセスを経ることで、通常は定点測定による測定しかできない部品であったとしても、製品の全体形状について高い精度の保証を行うことができます。またこの手法を応用したリバースエンジニアリングにも力を入れており、各種ご相談に対応が可能です。高精度の複雑形状部品はμ-MIM®の日本マイクロMIMにご相談下さい。